Dependencia en energía de la producción de picos de escape en espectroscopia de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía

Autores/as

  • Jorge A. Bravo Cabrejos Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos, Lima, Perú

DOI:

https://doi.org/10.15381/rif.v18i1.11575

Palabras clave:

Picos de escape, fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía, ceniza de madera

Resumen

Se presenta el modelo teórico para calcular la energía e intensidad relativa de los picos de escape correspondientes a los rayos-X característicos presentes en un espectro de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía (FRXDE). Los picos de escape de elementos presentes en una muestra en alta concentración interfieren con la identificación de rayos-X característicos de elementos presentes en muy baja concentración. El resultado de este análisis se utiliza para simular con buenos resultados la presencia de los picos de escape de una muestra de ceniza de madera que contiene K y Ca en alta concentración

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Publicado

2015-07-15

Número

Sección

Artículo

Cómo citar

Dependencia en energía de la producción de picos de escape en espectroscopia de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía. (2015). Revista De Investigación De Física, 18(1), 1-5. https://doi.org/10.15381/rif.v18i1.11575