Cristalización y morfología superficial de películas delgadas de Ag/SiO2 tratadas térmicamente
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v18i2.11580Palabras clave:
Películas delgadas de Ag, cristalización térmica, recocido térmicoResumen
En este trabajo se estudia las propiedades estructurales y morfológicas de las películas delgadas de plata de 60 nm de espesor, depositadas sobre sustrato de SiO2 y tratadas térmicamente a distintas temperaturas desde 250 hasta 1000℃. Se ha encontrado que al incrementar la temperatura de recocido, la película de plata se cristaliza en la dirección [111] aumentando la rugosidad superficial y formando islas. Sin embargo, entre la temperatura de recocido de 800 a 900°C se observa un cambio en la orientación preferencial a la dirección [200]. Se discute este cambio de orientación mediante los procesos de difusión.
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Derechos de autor 2015 R. M. Calle, L. De Los Santos, A. Bustamante, J. Angulo, C. H. W. Barnes
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