MEDIDA DEL ÍNDICE DE REFRACCIÓN COMPLEJO Y DE LA BANDA DE ENERGÍA PROHIBIDA DEL SEMICONDUCTOR CdSe
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v3i01-02.8604Palabras clave:
Índice de refracción, semiconductor, película delgada, CdSeResumen
Determinamos el índice de refracción complejo (N) de una película delgada semiconductora de seleniuro de cadmio, CdSe, a través de las medidas del espectro de transmitancia. El experimento nos permitió obtener, de la parte real del índice de refracción la ley de dispersión de N, y de la parte imaginaria, el coeficiente de absorción. Se realiza un análisis de la dependencia sobre la energía del coeficiente de absorción para obtener el valor de la banda prohibida del semiconductor y la naturaleza de la transición óptica.
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Derechos de autor 2000 Juan Carlos Gonzalez Gonzalez, César Augusto Chung Chang, Carlos León N.
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