Dependencia de las propiedades magnéticas con el espesor en películas delgadas de FePt

Resumen

El presente trabajo muestra un estudio sistemático de la dependencia de las propiedades magnéticas con el espesor en películas delgadas de FePt con estructura FCC químicamente desordenada. Las películas con espesores en el rango de 9 nm a 94 nm, fueron preparadas por la técnica de magnetrón sputtering sobre un sustrato de silicio (100) con óxido nativo. Los análisis por difracción de rayos X muestran que las películas crecen texturadas en la dirección [111], perpendicular al plano de la película, y que están sometidas a tensiones de compresión en el plano de la misma. Los lazos de histéresis medidos con el campo magnético aplicado paralelo al plano de la película indican la presencia de un espesor crítico de aproximadamente 30 nm en el que se observa un cambio en la estructura de dominios magnéticos. Las películas de menor espesor (9 nm ≤ t ≤ 28 nm) presentan una anisotropía uniaxial dentro del plano con lazos de histéresis cuadrados, mientras que las películas más gruesas (35 nm ≤ t ≤ 94 nm) revierten su magnetización en un proceso de dos pasos, lo cual es típico de sistemas que presentan estructura de dominios tipo stripe. Los lazos de histéresis con campo magnético aplicado perpendicular al plano de la película muestran una anisotropía uniaxial relativamente débil, sumada a la anisotropía de plano fácil, que es la responsable del cambio en la estructura de dominios por encima del espesor crítico.