Dependencia en energía de la producción de picos de escape en espectroscopia de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v18i1.11575Palabras clave:
Picos de escape, fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía, ceniza de maderaResumen
Se presenta el modelo teórico para calcular la energía e intensidad relativa de los picos de escape correspondientes a los rayos-X característicos presentes en un espectro de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía (FRXDE). Los picos de escape de elementos presentes en una muestra en alta concentración interfieren con la identificación de rayos-X característicos de elementos presentes en muy baja concentración. El resultado de este análisis se utiliza para simular con buenos resultados la presencia de los picos de escape de una muestra de ceniza de madera que contiene K y Ca en alta concentración
Descargas
Publicado
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 2015 Jorge A. Bravo Cabrejos
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0.
LOS AUTORES RETIENEN SUS DERECHOS:
a. Los autores retienen sus derechos de marca y patente, y tambien sobre cualquier proceso o procedimiento descrito en el artículo.
b. Los autores retienen el derecho de compartir, copiar, distribuir, ejecutar y comunicar públicamente el articulo publicado en la Revista de Investigación de Física (por ejemplo, colocarlo en un repositorio institucional o publicarlo en un libro), con un reconocimiento de su publicación inicial en la Revista de Investigación de Física.
c. Los autores retienen el derecho a hacer una posterior publicación de su trabajo, de utilizar el artículo o cualquier parte de aquel (por ejemplo: una compilación de sus trabajos, notas para conferencias, tesis, o para un libro), siempre que indiquen la fuente de publicación (autores del trabajo, revista, volumen, numero y fecha).
