Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v27i1.28010Palabras clave:
Arcilla, pigmento, difracción de rayos X, método de RietveldResumen
Muestras geológicas de arcilla del valle de Moche fueron investigadas con el objetivo de continuar elaborando una base de datos de arcillas que se pueda contrastar con la composición mineralógica de muestras arqueológicas. Un estudio de pigmentos blancos de mural, con fines de preservación y puesta en valor, forma parte de esta investigación. En ambos casos, el objetivo fue determinar cualitativa y cuantitativamente la composición mineralógica de los materiales, aplicando difracción de rayos X. Las medidas de difracción fueron analizadas por refinamiento Rietveld para determinar el porcentaje en peso de las fases previamente identificadas. De la identificación, las muestras geológicas de arcilla presentaron fases de cuarzo y diversas arcillas, particularmente la anortita como fase mayoritaria; también se identificó albita. La presencia de estas dos últimas fases podría ser un indicador para determinar la procedencia de materiales utilizados en la elaboración y preparación de los cerámicos arqueológicos. Por otro lado, en todas las muestras de pigmento fueron identificadas fases de cuarzo, arcillas, calcita, yeso y halita; la calcita y el yeso serían los responsables del color en los pigmentos, en tanto que la halita sería un contaminante externo proveniente de la brisa marina.
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Derechos de autor 2024 Frank Moya , Luis Lizarraga , Elvira Zeballos-Velásquez, Gabriel Prieto , Esteban Asto , Miguel Andía
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