Monitoreo del contenido de argón en los materiales
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v16i01.8657Palabras clave:
Monitoreo, argón, fluorescencia de rayos X, materiales, superficie.Resumen
Se reporta la posibilidad de monitorear de manera cuantitativa la presencia de argón en la capasuperficial de los materiales utilizando la emisión fluorescente de los rayos-X característicos tipo K deargón producidos por irradiación de la superficie del material con rayos X de baja energía. La bajaenergía de estos rayos-X K, 2.97 keV, hace posible monitorear la presencia de este elemento hasta unaprofundidad de unos 5 micrones.
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Derechos de autor 2013 J. A. Bravo Cabrejos, M. E. Mejía Santillán
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