Correlación entre la superconductividad y la estructura en el sistema [Y1−xPrx]Ba2Cu3O7

Autores/as

  • Jesús Flores Laboratorio de Cerámicos y Nanomateriales, Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos
  • Angel Bustamante Laboratorio de Cerámicos y Nanomateriales, Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos
  • Juan Feijoo Laboratorio de Cerámicos y Nanomateriales, Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos
  • J. C. González 2Grupo de Investigación de Superficies, Intercaras y Láminas Delgadas, Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla, CSIC, Universidad de Sevilla, Calle Américo Vespucio 49, Isla de la Cartuja, 41092 Sevilla, España
  • Dalbert Sánchez Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas, Rua Dr. Xavier Sigaud 150, Urca, Rio de Janeiro, Brasil
  • Geraldo R. C. Cernicchiaro Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas, Rua Dr. Xavier Sigaud 150, Urca, Rio de Janeiro, Brasil

DOI:

https://doi.org/10.15381/rif.v14i02.8698

Palabras clave:

Refinamiento Rietveld, dopaje de praseodimio, supresión de la superconductividad

Resumen

Un estudio estructural de la incorporación de iones de Pr en los sítios de Y fue realizado en muestras policristalinas de [Y1−xPrx]Ba2Cu3O7 a través de: análisis de Rietveld de los patrones de difracción de rayos X, el método de enlaces de valencia y los diagramas de densidad electrónica correlacionando sus efectos del dopaje en las propiedades superconductantes. El contenido de oxígeno fue chequeado por medio de espestroscopia μ-Raman, observando la posición de la frecuencia del modo de fonón de O4-Ag y estableciendo una relación entre el modo de frecuencia del O4-Ag y los dos sítios del cobre, CU(1) y Cu(2). Dos regiones microestructurales ricos en Pr e Y han sido observados.

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Publicado

2011-12-30

Número

Sección

Artículo

Cómo citar

Correlación entre la superconductividad y la estructura en el sistema [Y1−xPrx]Ba2Cu3O7. (2011). Revista De Investigación De Física, 14(02), 1-7. https://doi.org/10.15381/rif.v14i02.8698