Interferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica

Autores/as

  • Albert Reyna Ocas Laboratorio de Óptica No Lineal, Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos, Ap. Postal 14-0149, Lima, Perú
  • Ilich Contreras Verástegui Laboratorio de Óptica No Lineal, Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos, Ap. Postal 14-0149, Lima, Perú
  • Whualkuer Lozano Bartra Laboratorio de Óptica No Lineal, Facultad de Ciencias Físicas, Universidad Nacional Mayor de San Marcos, Ap. Postal 14-0149, Lima, Perú. Facultad de Ciencias Naturales y Matemática, Universidad Nacional del Callao, Bellavista, Callao, Perú

DOI:

https://doi.org/10.15381/rif.v14i01.8727

Palabras clave:

Interferómetro de Michelson, piezoelectricidad, oscilador forzado.

Resumen

En este trabajo usamos un simple interferómetro de Michelson para caracterizar la deformación de un material piezoeléctrico en función del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parámetros de los factores de calidad del piezoeléctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de amortiguamiento y el factor de mérito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado.

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Publicado

2011-07-15

Cómo citar

Reyna Ocas, A., Contreras Verástegui, I., & Lozano Bartra, W. (2011). Interferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica. Revista De Investigación De Física, 14(01), 1–4. https://doi.org/10.15381/rif.v14i01.8727

Número

Sección

Artículo