Cristalización y morfología superficial de películas delgadas de Ag/SiO2 tratadas térmicamente. Revista de Investigación de Física, [S. l.], v. 18, n. 2, 2015. DOI: 10.15381/rif.v18i2.11580. Disponível em: https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580.. Acesso em: 1 may. 2024.