Evolución de la cristalización y la morfología superficial de películas delgadas de Cu en substratos de SiO2/Si tratadas térmicamente. Revista de Investigación de Física, [S. l.], v. 13, n. 01, p. 1–7, 2010. DOI: 10.15381/rif.v13i01.8849. Disponível em: https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8849.. Acesso em: 4 may. 2024.