“Caracterización De Muestras Policristalinas Para Fines arqueológicos Por cinemática De difracción De Rayos X Y Refinamiento Rietveld”. Revista De Investigación De Física, vol. 27, no. 1, Apr. 2024, pp. 38-45, https://doi.org/10.15381/rif.v27i1.28010.