Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución. Rev. Inv. Fis. [Internet]. 2024 Aug. 24 [cited 2024 Aug. 31];27(2):57-61. Available from: https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171