Evolución de la cristalización y la morfología superficial de películas delgadas de Cu en substratos de SiO2/Si tratadas térmicamente. Rev. Inv. Fis. [Internet]. 2010 Jul. 15 [cited 2024 May 4];13(01):1-7. Available from: https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8849