Caracterización de aleaciones semiconductoras por espectroscopia Raman. Revista de Investigación de Física, [S. l.], v. 12, n. 02, p. 16–20, 2009. DOI: 10.15381/rif.v12i02.8710. Disponível em: https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8710.. Acesso em: 22 jul. 2024.