ANÁLISIS MINERALÓGICO CUALITATIVO Y CUANTITATIVO EN ARCILLAS POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X Y EL MÉTODO RIETVELD USANDO EL PROGRAMA FULLPROF
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v9i01.8618Palabras clave:
DRXWIN, CreaFit, Refinamiento Rietveld, FullProf, Mapa de FourierResumen
En el presente trabajo se realizó la identificación cualitativa y cuantitativa de las principales fases mineralógicas presentes en una muestra de arcilla, para mostrar un método que permitió ajustar su estructura cristalina y a la vez determinar las concentraciones de las fases mineralógicas presentes en la muestra de arcilla. Los datos se obtuvieron con un Difractómetro Universal y se aplicó el método Hanawalt para la identificación de las fases, para ello utilizamos los software DRXWIN 2.2 y el CreaFit 2.2. El refinamiento Rietveld se realizó usando el programa FullProf, el cual permitió refinar los parámetros de red, las posiciones atómicas y determinar las concentraciones de las fases mineralógicas presentes en la muestra, a la vez permite representar gráficamente la estructura cristalina refinada de cada fase mineralógica y el Mapa de Fourier.Descargas
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Derechos de autor 2006 Rubén Quille R., Angel Bustamante D.
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