Determinación cualitativa y cuantitativa de la composición mineralógica de pigmentos arqueológicos por difracción de rayos X y modelamiento de las intensidades experimentales según el método de Rietveld

Autores/as

  • Esteban Asto Universidad Nacional Mayor de San Marcos. Lima, Perú https://orcid.org/0000-0003-4366-6091
  • Luis Lizarraga Universidad Nacional Mayor de San Marcos. Lima, Perú
  • Elvira Zeballos Universidad Nacional Mayor de San Marcos. Lima, Perú https://orcid.org/0000-0002-5957-1639
  • Gabriel Prieto Universidad de Florida, Departamento de Antropología. Estados Unidos

DOI:

https://doi.org/10.15381/rif.v25i3.24279

Palabras clave:

Pigmento, arcilla, difracción de rayos X, método de Rietveld

Resumen

El sitio arqueológico Pampa la Cruz está situado sobre una terraza marina, a 200 metros del litoral del distrito de Huanchaco en la ciudad de Trujillo. Por la importancia de este complejo arqueológico, uno de los grandes retos es el estudio de sus pinturas murales y pigmentos para su preservación. En función de esta perspectiva, la presente investigación fue desarrollada con el propósito de estudiar y determinar cualitativa y cuantitativamente la composición mineralógica de los pigmentos de mural por difracción de rayos X de polvo y, de esta forma, determinar la presencia de agentes degradantes. El análisis cuantitativo fue realizado por el método de Rietveld, a fin de obtener información sobre los parámetros estructurales y el porcentaje en peso de cada fase identificada. Fue determinada la composición mineralógica de los pigmentos, encontrándose un alto porcentaje de cuarzo, diversas arcillas como fases minoritarias y sal halita; esta última en pequeña proporción y como contaminante externo. Se espera que estos resultados contribuyan con la preservación, restauración y mantenimiento de este sitio arqueológico.

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Publicado

2022-12-15

Cómo citar

Asto, E., Lizarraga, L., Zeballos, E., & Prieto, G. (2022). Determinación cualitativa y cuantitativa de la composición mineralógica de pigmentos arqueológicos por difracción de rayos X y modelamiento de las intensidades experimentales según el método de Rietveld. Revista De Investigación De Física, 25(3), 21–26. https://doi.org/10.15381/rif.v25i3.24279

Número

Vol. 25 Núm. 3 (2022)

Sección

Artículo

Licencia

Derechos de autor 2022 Esteban Asto, Luis Lizarraga, Elvira Zeballos, Gabriel Prieto

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