Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v27i2.27171Palabras clave:
película delgada, nanoestructura, caracterización estructural, caracterización morfológica, ciencia de los materialesResumen
Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el método de pulverización catódica o sputtering. En este trabajo se presenta, la superred conteniendo 6 repeticiones o periodos (N=6) en la nanoestructura: Vidrio/Ti(4.1 nm)/[Fe(2.3 nm)/Ti(1.8 nm)/Fe(2.3 nm)/Ti(4.1 nm)][6] crecidas por magnetron sputtering. La caracterización del espesor y rugosidad de la película se realizó mediante la técnica de reflectividad de rayos X (XRR) a bajo ángulo y en complemento, se prepararon lamelas por la técnica de haz de iones enfocados para su posterior análisis morfológico realizado por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (HRTEM). Los valores estimados por reflectividad de rayos X concuerdan con los valores encontrados por HRTEM. Esto permite optimizar el proceso de crecimiento de películas delgadas a base de Fe/Ti para el desarrollo de nuevos dispositivos magnéticos.
Descargas
Publicado
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 2024 M. Yactayo, J. Ghanbaja, O. Copie, J. Quispe-Marcatoma, C. V. Landauro, J. C. Rojas-Sánchez
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución 4.0.
LOS AUTORES RETIENEN SUS DERECHOS:
a. Los autores retienen sus derechos de marca y patente, y tambien sobre cualquier proceso o procedimiento descrito en el artículo.
b. Los autores retienen el derecho de compartir, copiar, distribuir, ejecutar y comunicar públicamente el articulo publicado en la Revista de Investigación de Física (por ejemplo, colocarlo en un repositorio institucional o publicarlo en un libro), con un reconocimiento de su publicación inicial en la Revista de Investigación de Física.
c. Los autores retienen el derecho a hacer una posterior publicación de su trabajo, de utilizar el artículo o cualquier parte de aquel (por ejemplo: una compilación de sus trabajos, notas para conferencias, tesis, o para un libro), siempre que indiquen la fuente de publicación (autores del trabajo, revista, volumen, numero y fecha).
