Perfilometría de superficies mediante franjas desfocalizadas
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v28i1.30156Palabras clave:
Fase desenvuelta, perfilometría de proyección de franjas, franjas desfocalizadas, transformada rápida de FourierResumen
En los últimos años, el advenimiento de la potencia computacional para propósitos de cálculo ha tenido un gran impacto en la optimización de los procesos industriales automáticos relacionados a visión computacional, \emph{machine learning}, robótica y máquinas autónomas. En este contexto, un análisis topográfico rápido de objetos 3D que abarcan de milimetros a decímetros juega un rol importante en los procesos industriales autónomos. Desde la óptica, la perfilometría de proyección de franjas ha sido una herramienta barata y versátil para este propósito. In este trabajo, realizamos una ingeniería reversa de ésas técnicas encontradas en la literatura en las últimas décadas. Construímos un sistema de adquisión y desarrollamos algunos códigos en Python para la reconstrucción de imágenes de objetos no encontrados en la literatura.
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Derechos de autor 2025 R. A. Montalvo, P. H. Rivera
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