Interferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica
DOI:
https://doi.org/10.15381/rif.v14i01.8727Palabras clave:
Interferómetro de Michelson, piezoelectricidad, oscilador forzado.Resumen
En este trabajo usamos un simple interferómetro de Michelson para caracterizar la deformación de un material piezoeléctrico en función del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parámetros de los factores de calidad del piezoeléctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de amortiguamiento y el factor de mérito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado.Descargas
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Derechos de autor 2011 Albert Reyna Ocas, Ilich Contreras Verástegui, Whualkuer Lozano Bartra
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